技术编号：6331608
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种集成电路辐照效应的估算方法，属于集成电路领域。 背景技术以大规模和超大规模集成电路技术为基础、以计算机为核心的信息技术带来了新 的世纪性产业革命。超深亚微米器件以其高速、低功耗、大规模集成、低价格和高成品率被 广泛地应用在各个领域。目前我国航天技术发展迅速，航天器上已经大量使用大规模集成 电路。然而，空间辐射环境中的带电粒子产生的辐照效应会导致大规模集成电路功能异常， 严重影响航天器的可靠性及在轨寿命。航天事业的发展和宇宙探索的进步对于先进集...
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