技术编号:6337632
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种光学检测的校正方法,尤其涉及一种。背景技术在二维光学检测系统中,当同一待测对象位在待测平面上不同位置,应检测出相同的检测结果,才可维持检测的一致性,进而准确检测出待测对象本身所具有的瑕疵。然而,实际检测时,检测的一致性却会受到镜头渐晕效应(Vignetting Effect)、电荷耦合装置不同像素的灵敏度差异、滤镜本身不均勻性及灰尘沾污等因素影响,造成检测上的误差。请参阅图1,其是二维光学检测系统进行检测的示意图。如图所示,进行光学检测时,电...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。