技术编号:6338586
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种,属于集成电路板级生产测试领域。背景技术随着集成电路的工艺尺寸的日益缩小和电路复杂度的不断提高,特别是片上系统 (System-on-Chip, SoC)的出现和广泛应用,超大规模集成电路的集成度已经发展到一个芯片上可以集成几千万个晶体管以上的程度。所以,探索和应用低成本、高效率的测试技术和测试系统已成为芯片测试中的一个重要课题。由于电路板或芯片设计人员通常不是测试专家,他们很少或者甚至不了解电路板或芯片应该如何去测试,鉴于此,可测性设计的概...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。