技术编号:6340010
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种影像量测系统及方法,尤其涉及一种。背景技术影像量测是目前精密量测领域中最广泛使用的量测方法,该方法不仅精度高,而且量测速度快。影像量测主要用于零件的尺寸误差和形位误差的测量,对保证产品质量起着重要的作用。做法一般是使用影像量测机台分别获取标准零件和待测零件的点云(即由多个三维离散点组成的点的集合),而后将点云数据输入计算机,执行相应软件对点云数据进行各种处理,获取检测结果。其中,对零件进行形位公差检测是上述各种处理所需要使用的重要技术之一,也...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。