技术编号:6345461
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种测量装置,尤其涉及一种智能型物位测量装置。 背景技术常用于物位测量计有物位测量仪表是测量液态和粉粒状材料的液面和装载高度 的工业自动化仪表。测量块状、颗粒状和粉料等固体物料堆积高度,或表面位置的仪表称为 料位计;测量容器中两种互不溶解液体或固体与液体相界面位置的仪表称为相界面计。物位测量仪表的种类很多,常用的有直读式液位计、差压式物位仪表、浮力式液位 计、电容式物位仪表、声波式物位仪表和核辐射物位仪表。此外,还有电触点式、翻板式和机 械叶...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。