技术编号：6352551
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种电容式触摸屏扫描线电容测试方法，尤其是指该方法以及其对应 的触摸屏。背景技术目前，判断电容式触摸屏是否合格一般需要测试扫描线是否导通、阻抗大小和电 容值大小，而为了节约测试成本，测试触摸屏的步骤一般均在成型前就完成各种测试步骤。 而在现阶段，触摸屏上ITO在蚀刻后仅仅能测试出其导通和阻抗，虽然在触摸屏成型前通 过导通和阻抗的测试可以排除一部分不良品流入下一工艺步骤中，但是由于没有任何测试 扫描线电容值的方法，所以导致只能在触摸屏成型后，通过手...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
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