技术编号:6367260
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种。背景技术基于点特征跟踪方法中,点的检测和准确匹配是ー个难点,主要是因为相机视角变化、图像质量低以及遮挡等原因形成。点的检测和匹配的关键是点特征表示和相似度度量。目前最新的点特征求取方法有SIFT、SURF和DAISY等。Lowe在1999年提出了尺度不变的特征点提取算法SIFT,通过计算特征点邻域的梯度直方图作为特征点的描述子,然后根据特征点的描述子进行匹配。但是,SIFT特征点计算复杂,维数高,实时性能差。Herbert Bay提出了ー种...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。