技术编号:6374589
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路领域。更具体地,本发明涉及用于调试集成电路的技术。背景技术已知提供具有调试机构的集成电路。某些已知的调试机构提供了生成存储器事务(memory transaction)以便读取或写入集成电路存储地址空间内的存储位置的能力。这些调试机构因此可用作为事务主装置(master)并且可有益于读取数据以便确定集成电路的状态以及写入数据以便向集成电路提供期望的激励。通常的情况是提供给集成电路来支持调试操作的连接引脚的数目较少。集成电路封装上引脚的增长...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。