技术编号:6381301
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种微纳物体图像倾斜校正方法,特别涉及一种,属于图像处理。背景技术激光扫描显微镜是建立在光学显微镜及各种扫描显微镜基础上的一种新型的扫描成像系统。利用聚焦的激光束在样品表面扫描,同时利用光电检测器件接收样品反射光(或透射光),样品结构的变化使反射光(或透射光)强度改变,因而使光电检测器的输出电流改变,经信号处理,同步显示在计算机屏幕上。由于被测样品属于微纳物体,在采样时往往由于放置不平等原因使得被测样品出现倾斜的情况。为了准确的获得被测样品的信息...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。