技术编号:6383644
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明是有关于一种,尤指一种利用线性优化方法以减少触控操作所产生的原始报点与实际触碰轨迹之间的偏移的。背景技术请参照图1,图1为说明当使用者利用手指在触控面板上执行触控操作的示意图。如图1所示,当使用者利用手指102在触控面板104上执行触控操作时,触控面板104上触碰点的电容值会因手指102的电容耦合效应而增加,耦接于触控面板104的处理器106即可根据触碰点的电容值变化,侦测并计算触控点的位置。当手指102在触控面板104上执行触控操作时,在手指102...
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