技术编号：63887
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及一种能够原位同时对材料的微区结构及其性质进行测试的联合系统。 背景技术在现有技术中，结构分析和性质测试是分开进行的。高分辨分析电子显微术是研究材料微观结构的有力方法；材料的性质测试包括物理、化学和机械性质等诸多方面，扫描探针显微镜是最近出现的可用于微区性质测量和表面科学研究的仪器。目前的方法无法原位同时获得同一微区的原子结构与性质数据，现有设备也无法操纵单个纳米结构，这是实验科学进入微观尺度要解决的一个瓶颈问题。 发明内容 针对现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种将透射电子显微镜和扫...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。