技术编号：6391692
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于数据差错检测和纠正(EDAC)的交叉正反编码结构和解码方法。更确切的说，主要针对由于空间高能粒子辐射而导致星载电子系统的数据存储发生单粒子翻转(Single event upset，SEU)，提出一种新的纠错编码方法——交叉正反码，结构及其两种解码方法。它能很好的支持星载计算机和可编程逻辑器件协同实现软硬件EDAC的设计，属于航空航天领域。背景技术 卫星在宇宙空间运行会受到各种高能粒子和射线的辐射，可能造成星内电子系统的损伤，甚至使之失效...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。