技术编号:6405321
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明大体上讲,涉及用来测试集成电路的系统,特别而言,涉及一种用来降低由受测试集成电路执行逻辑的状态转换所导致的受测试集成电路中的电源噪声的装置。背景技术 一集成电路(IC)测试器可同时测试一组以半导体晶元上的管芯形式存在的IC。图1是一方框图,其图解阐明了一般的IC测试器10,该测试器10通过探针卡12连接到一组相似的受测试IC器件(DUT)14上,该等受测试IC器件14可形成于一半导体晶元上。测试器10使用弹簧针15或其它构件,将不同的输入与输出终端连...
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