用可编程非易失半导体储器加戴的微机和数据读出测法的制作方法技术资料下载

技术编号:6412542

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本发明是关于具有由外部设备加载的半导体芯片和包括CPU(中央处理单元),ROM(只读存储器),RAM(随机取存存储器),定时器,串连输入/输出,A/D转换器等等的单片微机。特别是,本发明是关于用PROM(可编程非易失半导体存储器)加载的微机和PROM数据测试读出操作的方法。通常,已经要求微机测试为其操作特别是为关于存储器的数据读出操作而加载的CPU。日本专利平-公开说明书62-98437已经公开了能完成这样测试的这类微机的一实例。附图说明图1的结构图示出了...
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