技术编号：6413632
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于测试诸如IC等半导体器件的半导体测试系统，更具体地，涉及用于在没有测试系统的硬件时仿真半导体测试系统中的硬件或者甚至要由半导体测试系统测试的半导体器件的半导体测试系统仿真器。此外，本发明涉及与操作操作系统一起使用的半导体测试系统仿真器，该操作系统当在半导体测试系统的硬件中存在改变时能容易地修改软件。在用于测试半导体器件的半导体测试系统中，将称作测试矢量的测试信号模式提供给受测试的半导体器件并将从该半导体器件输出的结果与事先设置的期望值信号进行...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。