技术编号：6414815
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型是一种光学比对仪，特别是一种印迹比对仪。本实用新型的目的是实现对不同客体上的印迹如指纹、印章等进行重叠比对，以判明印迹的真伪，即对印迹作同一认定。目前所公知的印迹比对仪，是采用CCD摄像技术，将印迹图像摄入电脑，采用适当的算法对印迹进行数字比对，得出两印迹的符合率值。这种比对方法结构复杂，设备造价高，体积大，操作复杂，对操作者的水平要求高，不能有效结合人的经验，并且易受电脑病毒和符合率误差的影响。本实用新型的印迹比对仪克服了如上缺点，具有结构简单...
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