技术编号：64200
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及一种扫描探针显微技术，特别涉及到扫描近场光学显微术等领域。具体地说，涉及一种品质因数(Q-值)可控的切变力检测控制装置。 背景技术扫描近场光学显微术是将扫描探针显微术与光学技术相结合而发展起来的一种全新的显微成像技术。该技术利用光学探针替代光学透镜，并采用探针在样品表面近场逐点扫描的成像方式，能够在纳米尺度上同时提供样品表面形貌和光学(包括吸收、散射、偏振以及荧光等)信息，突破了光波衍射效应限制，使光学图像分辨率达到纳米量级。 在扫描近场光学显微术中，探针与样品表面之间的距离是决定光学分辨率的...
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