技术编号:6434169
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及芯片设计及调试领域,尤其涉及一种寄存器调试方法及装置。 背景技术在芯片设计、调试、应用过程中,最多的工作就是对各种状态下的寄存器进行调试。目前,普遍的寄存器调试工具只提供了简单的寄存器读写、寄存器说明或者寄存器批量读写等操作,在问题定位上主要依靠调试者的经验和知识。在现有技术下,寄存器调试工具只提供了调试操作,但是没有对寄存器调试结果进行直观的显示。调试者调试芯片中的寄存器时,如果经验不够丰富,对很多问题不够熟悉,那么就很难快速、准确地定位问题所...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
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请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。