技术编号：6441208
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种量测系统及方法，尤其涉及一种。背景技术近年来，随着计算机硬件性能的提高及价格的降低，其在扫描系统中被大量的引入。做法一般是使用扫描装置扫描产品以获得组成该产品的点云(即由多个三维离散点组成的点的集合)，而后将点云数据输入计算机，执行相应软件对点云数据进行各种处理。在检测产品时，通常需要对产品的局部进行检测，然而，大部分扫描装置在扫描产品时，无法精确到只扫描产品的某一个局部，因此，会产生许多的杂点。当需要对某个局部检测时，需要去除这些杂点，进而...
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请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。