技术编号:6454930
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明一般涉及诊断集成电路中的故障,更特别地是涉及诊断集成电路中的桥接缺陷(bridging defect)。背景技术作为集成电路(IC)设计中的节点之间的无意电连接或"短路" 的桥接缺陷的逻辑和电行为长期以来是测试界中的研究主题。桥接缺 陷是IC制造产量损失的主要原因,因此减少它们的数量对于IC制造 商具有显著的财政益处。桥接缺陷,特别是高电阻桥(bridge),也 可躲过制造测试中的检测。具有未检测到的桥的IC由此可被错误地 装运到客户,在客户那里它会...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。