技术编号：6455891
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及容许缺陷和故障的电路、集成电路以及电子器件，以及具体涉及一种方法，所述方法用于采用晶体管的串联复制(series replication)以及基于差错控制编码的信号线冗余来产生容许缺陷和 故障的多路信号分离器(demultiplexer )。背景技术光刻和其他集成电路制造技术的连续进步使之可能的电子电路和 电路部件(包括晶体管)的尺寸的惊人减小，以及制造晶体管和集成电 路的不断降低的每部件成本，导致了日益复杂且密集图案化的集成电路 和电子器件的发...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
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