技术编号：6461548
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。x射线衍射电荷密度恢复、处理及分析方法本技术发明主要应用于物质结构研究领域，属物理学中晶体学范畴。此发 明成果可用于物理学、晶体学、化学、地质矿物学、制药、分子生物学等研究领域。技术背景晶体学作为一门基础学科主要以研究晶体结构为目的。在经过一个多世纪 的发展后，目前，晶体学已经成为物理学、化学、生物分子学、矿物学等学科 中必不可少的一门基础知识。近一、二十年来，随着新材料、新能源、信息技 术、生物工程技术的发展，人们越来越认识到，决定物质的物理、化学性能的...
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