技术编号：6466560
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种射频识别技术，尤指一种应用于射频识别标签芯片的测试 装置及其测试方法。技术背景对于射频识别(Radio Frequency Identification, RFID)标签制造商而言， 如何验证其本身所设计出的RFID标签芯片没有错误存在并且符合一种(或多 种)RFID协议的定义，是件相当重要的课题。于先前技术中，每次进行RFID标 签芯片测试之前，均必须先确认该芯片所支持的RFID协议，才能透过人工方式 编辑相对应的测试指令以供该芯片进行测试...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。