技术编号：6475929
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种硬盘生产检测设备，尤其涉及一种硬盘接测粒子 计数器。 背景技术硬盘工作时，磁头和盘片之间的距离大约只有0.03微英寸，盘片在转 动的时候，会带动硬盘内的粒子跟着飘动，如果有颗粒跑去磁头和盘片之 间，就会造成盘片的划伤，磁头的损坏，颗粒越大越容易伤害硬盘。因此 在硬盘的装配完成后，需要测试硬盘内部的颗粒情况。粒子计数器通过吸 嘴压紧硬盘的测试孔，从硬盘内部往外抽空气，抽出来的空气通过计数器 进行直径测量和计数。现有的粒子计数器，其上表面上具...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。