技术编号:6482956
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于现场可编程门阵列(FPGA)的电子设计自动化EDA (Electronic Design Automation),具体涉及一种基于查找 表结构的商用FPGA在辐照环境中,通过采用三模冗余抗辐照的方法 及其通用算法,从而缓解辐照所造成的单粒子翻转的软错误问题。背景技术基于査找表结构的商用FPGA由大量的可编程逻辑资源组成。太 空中存在的能量粒子对此类FPGA芯片会产生单粒子效应Single Event Effects (SEE)。当单个能量粒子打在...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。