技术编号：6485739
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了用于无偏的评估全基因组SNP芯片外显子组及基因覆盖率分析的方法和系统并可评估DNA片段的SNP覆盖率状况，在保持和现有评估方法优点的同时，可以减少现有方法的假阳性率和准确度。其技术方案为方法包括依据群体遗传学经典理论单倍型域和连锁不平衡原理构建模型；将构建好的数据模型载入到数据处理单元中；将待检测的数据集或序列位置信息进行处理输出图形结果及计算结果；将结果输入统计模块进行分析；根据图像信息和数据信息得到覆盖率情况注释和r2。专利说明—种检测外显...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。