技术编号：6488471
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。发明公开了，对安全芯片在设计阶段进行功耗攻击测试时，对功耗样本的获取及处理如下(1)功耗样本获取(2)功耗样本预处理(3)假设功耗样本获取(4)相关系数的计算和攻击结果分析。本发明仅采样有变化的功耗点，节省大量功耗样本数据，大幅降低功耗攻击计算量，具有评估效率高、速度快的优点，更重要的是，能够在芯片设计阶段进行功耗攻击测试，降低流片后安全性能不佳导致芯片重新设计的风险，从而缩短安全芯片设计周期。专利说明[0001]本发明涉及芯片的信息安全领域，具体涉及。背...
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