技术编号:6491607
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开一种轮廓更平滑、从而降低漏电可能性的Path的绘制方法。该方法定义一种新的Path风格AntiESD风格。AntiESD风格Path增加两个新的特征属性EndFactor来表示对头尾两端(End)的轮廓裁剪比例;CornerFactor表示对中心线拐弯(Corner)处的轮廓平滑的处理比例。这种新风格Path的轮廓,是在相同中心线和宽度的Truncate?Path轮廓的基础上,对头尾两端的轮廓按照EndFactor比例进行裁剪,对中心线拐弯处轮廓...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。