技术编号：6493882
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。电路、尤其是集成半导体电路或半导体芯片，在其制成之前就已经被测试功能性，以避免制造带有差错的电路或芯片。为检查电路而通常执行电路仿真，其中仿真电路的电特性。电路仿真虽然可以被用来识别电路设计中的弱点，但它具有以下缺点，即只分别针对一个预定的激励矢量或一个预定的输入电压和/或其它参数(例如温度、电流等)激励组来检查电路特性。因此，只有当每次所采用的激励矢量或所采用的参数激励组以某种方式要求该电路使得该电路中所含的设计差错出现并变得可识别时，电路中的差错才能被...
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