技术编号:6502662
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及宇宙飞行,公开了一种,其包括步骤分别检测各器件样品失效时累积的等效10MeV质子注量,并输入尺度因子计算模块进行计算得到对数正态分布尺度因子数值;将对数正态分布尺度因子数值输入形状因子计算模块进行计算得到对数正态分布形状因子数值;最后,将对数正态分布尺度因子数值、对数正态分布形状因子数值和航天器器件累积的等效10MeV质子注量的预测值输入位移损伤失效率计算模块进行计算,得到位移损伤失效率;依此判断航天器内器件在任务周期内因位移损伤而发生故障的失效...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。