技术编号：6502665
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种，该测算方法包括提供多份待检测的器件样品；对各器件样品分别进行失效剂量检测；将各器件样品的失效剂量输入尺度因子计算模块进行计算，并得到对数正态分布尺度因子数值；将对数正态分布尺度因子数值输入形状因子计算模块进行计算，并得到对数正态分布形状因子数值；预测敏感器件累积的电离辐射总剂量；将对数正态分布尺度因子数值、对数正态分布形状因子数值和敏感器件累积的电离辐射总剂量输入失效率计算模块进行计算，并得到总剂量效应失效率。采用本发明的测算方法，有助于进...
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