技术编号:6513092
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种,包括以下步骤S1、粗略仿射变换模型参数估计;采用SURF检测子检测关键点,建立Freak特征向量,根据特征向量进行关键点匹配;计算其变换模型M,判断余下特征点对是否符合该模型;S2、采用最小能量亚像素法进行仿射变换模型参数修正;若tx,ty>10pixel或θ>10°,则根据上述粗略参数估计(tx,ty,θ),对待估计参数图像I(x,y)进行逆变换得到g(x,y),计算g(x,y)与模板图像f(x,y)的最小能量方程E,判断E...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。