技术编号：6513425
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明实施方式公开了一种测试装置、CPU芯片及缓存的测试方法，测试装置包括随机地址产生器，用于将伪随机序列产生的随机数作为随机地址，随机地址为缓存的地址，其中缓存的地址与主存储器的地址具有映射关系；随机数据产生器，用于产生与随机地址一一对应的第一随机数据；测试单元，用于根据第一随机数据对随机地址进行逻辑功能测试。通过以上公开内容，本发明所揭示的技术方案无需占用缓存的I/O端口，可在降低成本的前提下对缓存进行逻辑功能测试。专利说明测试装置、CPU芯片及缓存的...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。