技术编号:6517568
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供了一种,其涉及含有大规模集成电路单机或分系统抗单粒子效能的评估方法。该评估方法仿真计算了电子元器件的翻转率;对航天器分系统采用的主动和被动防护方法均给出了量化评估算法;然后对航天器分系统抗单粒子设计进行了评估。此外,该评估方法还可以得到系统不连续工作的概率。该评估方法经过推广,可以应用于整星以及星座单粒子翻转率的仿真计算。专利说明[0001]本发明涉及航天领域,具体地,涉及一种航天器系统抗单粒子设计评估方法,系统主要指含有大规模集成电路的单机或系...
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