基于双圆域的触摸屏采样优化方法技术资料下载

技术编号:6520766

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本发明公开一种,应用于触摸屏的采样驱动模块中,其包括以下步骤步骤1首先根据硬件差异选择双圆的半径,包括内圆半径确认和外圆半径;步骤2通过步骤1得到的双圆将触摸屏的采样平面划分为多个区域,对不同区域内的采样点进行分类处理。本发明将平面域优化引入了触摸屏采样优化当中,使用双圆域对平面域进行分割,从而对实现了对采样数据的分类处理;使用正态分布确定圆域半径,使圆域半径确认更加合理,有效的区分了静态点击和拖拽动作。专利说明[0001]本发明涉及触摸屏校正方法,具体涉...
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