技术编号:6530494
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本披露涉及一种模拟系统,尤其涉及一种预测半导体可靠度的方法与装置以及半导体测试系统。背景技术半导体集成电路(IC)产业经历快速的成长。集成电路材料和设计中的技术进步导致不同代的集成电路,其中每一代具有比前一代更小且更复杂的电路。尽管如此,这些进步增加集成电路加工和制造的复杂度,并且对这些要实现的进步而言,也需要集成电路加工和制造的类似开发。在集成电路演化的过程中,当几何尺寸(工艺所能制造的最小元件或线)减小时通常功能密度(单位晶片面积内互连装置的数目)会增...
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请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。