技术编号:6536239
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了,包括获取不同采样时刻硬盘阵列的参数,计算不同采样时刻硬盘阵列的参数所对应的隶属值,包括温度、性能、运行时间以及功耗,获取硬盘温度、性能、运行时间对应的隶属值的平均值A、B、C以及功耗对应隶属值的最小值D,获取该硬盘阵列的聚合值F=aA+bB+cC+dD,其中a=0.1,b=0.2,c=0.3,d=0.4,改变磁盘阵列的大小,并重复上述步骤,以获取不同大小磁盘阵列对应的聚合值,并找到使聚合值最大对应的磁盘阵列作为最可靠的磁盘阵列。与现有的方法相...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
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