技术编号:6536624
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了,包括获取不同采样时刻硬盘阵列的参数,计算不同采样时刻硬盘阵列的参数所对应的隶属值,包括温度、性能、运行时间以及功耗,根据用户的需求得到各自对应的目标系数,包括温度系数A、性能系数B、运行时间系数C和功耗系数D。获取该硬盘阵列的聚合值F=A+B+C+D,改变磁盘阵列的大小,并重复上述步骤,以获取不同大小磁盘阵列对应的聚合值,并找到使聚合值最大对应的磁盘阵列作为最符合用户期望的可靠磁盘阵列。与现有的方法相比,本发明的方法可以降低百分之二十到三十的...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
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