技术编号：6538974
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了。使用本发明能够在保持MIC方法两个重要特性的前提下，更加逼近于MIC的真实值，更能反映真实的两个变量之间的相关度。本发明对MIC方法进行改进，通过二次寻优的方法改变Y轴的划分方式，从均分Y轴的信息得到X轴最优化的信息，再去寻找Y轴优化的信息，在合理的时间内，找到比原方法更优的解,获得双变量相关度的更加精确的值，从而在信息判断时更精确，更贴合实际。专利说明[0001]本发明涉及相关性度量方法，具体涉及。背景技术[0002]在进行信息分析、信息推...
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