技术编号：6539558
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及抗辐照加固，尤其是一种。包括以下步骤步骤一，对设备进行真实辐照环境下的辐照试验，并判定寄存器各节点是否发生单粒子翻转；步骤二，对设备进行故障仿真，判定只要单粒子发生翻转必定会导致锁存错误的节点；步骤三，对步骤二中所判定的节点确定其临界翻转电流值；步骤四，对步骤二所判定的节点进行选择，选出在真实环境辐照测试中没有发生翻转的节点；步骤五，将步骤四中选择出的节点按其临界翻转电流值进行排序；步骤六，将排序中最小的临界翻转电流值作为设备抗辐照的加固目标。本...
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