技术编号：6543054
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了。其特征在于包括如下步骤首先利用彩色图像中绝缘子的颜色呈现聚类的特性，通过在Lab颜色空间中利用K均值聚类算法将绝缘子从复杂的背景图像中初步分割出来；然后利用绝缘子在图像形成的长条对称特性，采用基于主成分分析的连通区域判决方法定位出绝缘子的具体位置；在此基础上，通过统计分析绝缘子相邻盘片之间的距离识别出绝缘子缺陷区域。该方法受不同光线和复杂背景的影响较小，提高了绝缘子缺陷检测的准确性和鲁棒性，具有较高的工程实用价值。专利说明[0001]本发明涉...
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