技术编号:6546314
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种验证用于集成系统的现场可编程门阵列的方法,其包括从所述现场可编程门阵列的一组要求中选择不受所述集成系统的动态影响的要求的第一子集;从所述现场可编程门阵列的一组要求中选择受所述集成系统的动态影响的要求的第二子集;使用验证要求的第一子集的芯片测试器对所述现场可编程门阵列执行硬件测试;和当所述现场可编程门阵列安装在所述集成系统内时对所述现场可编程门阵列执行硬件测试以验证要求的第二子集。专利说明多层现场可编程门阵列硬件要求评估和验证 [000...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。