技术编号:6561262
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种MOS晶体管电学统计模型的快速建模方法。背景技术集成电路产品在工艺制造过程中, 一般要经过上百道工艺环节。由于每一 道工艺在统计意义上的不确定性因素的影响,即使出于同一设计的产品,其电 路性能也会由于不同的制造车间,工艺的不同批次,不同的晶圆以及不同的芯 片位置而发生相应的变化。因此,在集成电路设计时建立的器件模型,应充分考虑这些不确定性统计因 素的影响,建立相应的器件龟学统计模型。利用此建立的模型做蒙特卡罗仿真 时,模拟仿真得到电路性能统计...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。