技术编号:6561271
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种对多个FLASH进行测试的方法,尤其涉及一种实现 S0C芯片中多任务多FLASH同时测试的方法。背景技术随着硅片上的芯片数量越来越多,芯片的功能也越来越复杂,因此测 试所需的时间也越来越长、测试成本也就越来越高,如图1所示,现有技 术中,对SOC芯片中FLASH的测试一般都是采用专门的测试仪器直接通过 芯片中的CPU来对各个FLASH进行测试的,这种测试方法只能一个一个功 能的进行测试,因此测试效率很低。尤其是对FLASH IP进行测试时,由...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。