技术编号:6564765
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于数据阵列的先验约束的均值平移分析的系统和方法。背景技术 均值平移是一种用于分析具有核平滑函数表面的结构的通用的优化框架。均值平移过程是一种具有自动步长大小选择的自适应梯度上升算法并且收敛于函数表面的核平滑估计的模式。均值平移框架提供一种用于一般的数据聚类问题的有效的解决方案。参见K.Fukunaga的Introduction to Statistical PatternRecognition(Academic Press,San Diego,...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
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