技术编号：6568502
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。背景技术复杂半导体器件如微控制器(nC)或ASIC的制造容易出现错误. 由于随着结构尺寸变得越来越小而使掺杂成为统计过程，因此即使长 期的错误也在制造过程中不可避免。甚至有迹象表明，尽管存在巨大 的努力和进步未来错误的出现率还将上升.产率，即正确工作的器件 与制造好的器件数量的比值对主导的制造过程来说大约是90% (即在 此已经有10%的废品)，但是还有可能出现低得多的值。用于提高产 率的机制罔此直接降低了成本。此外出于测试和制造的考虑强化了能 够在现场应...
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