技术编号:6568543
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明从根据独立权利要求的前序部分的用于在微处理器的至少 两个执行单元的输出数据之间进行比较的方法和设备出发。背景技术由OC粒子或宇宙射线所引起的瞬时错误对于集成电路来说日益成 为一个问题。由于减小的结构宽度、下降的电压和更高的时钟频率,由ct粒子或宇宙射线所引起的电压峰值使集成电路中的逻辑值失真的概率增大。错误的计算结果可能是后果。因此在安全性相关系统中必 须可靠地检测这种错误。在必须可靠地检测电子设备的故障的安全性相关系统、诸如汽车中的ABS调节系统中...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。