技术编号：6570644
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明的一些实施例涉及半导体器件中错误的检测，更具体地说， 涉及处理器中错误的检测。背景技术瞬态错误经常称为逻辑错误，构成处理器中不断增长的错误来源。 由于器件尺寸的缩小和工作电压的降低，这些器件更容易受到宇 宙粒子的撞击和参数变化的伤害。这样的事件可能使瞬态错误发生， 后者随机发生而且可能影响处理器所实现的执行。随着各代半导体生 产工艺的发展，对逻辑错误越加敏感。人们已经釆用某些机制来修正这些逻辑错误。通常，这些措施包 括为数据的冗余操作提供冗余途径。然...
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