技术编号：6575222
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种缺陷测试方法，特别是涉及。属于 可靠性测试。(二) 背景技术随机测试是在一个含有大量测试用例的测试用例集合中根据一个均匀或者 非均匀的概率分布选择测试用例，进行测试，直到发现并剔除所有的缺陷。分 类随机测试则是在任意一步测试中，从一个已知含有附个测试用例等价类的集 合中根据某一种概率分布选择测试用例，这样把测试进行下去，直到剔除所有 的缺陷。例如测试用例集合共含有附个等价类(q,C2,…,Cj，其中第/个等价类含有《.个测试用例，分类随机测试...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。