技术编号:6577553
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电路板上电子器件的功能测试方法,具体说涉及具有边界扫描结构的电子器件的功能测试方法。为达到上述目的,本发明提供的,包括(1)获取被测试器件功能的逻辑关系,根据该逻辑关系确定测试矢量输入文件和测试正确响应文件;(2)利用测试矢量输入文件为被测试器件测试激励输入引脚赋值,并将所述引脚的测试赋值施加到被测试器件的芯片内核电路上;(3)扫描被测试器件的测试响应输出引脚,获取被测试芯片的响应数据,将上述测试响应数据与测试正确响应文件进行比较,获得测试结果。...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。